收藏职位 
5年以上 
本科 
45岁以上 
上海市、深圳市【岗位定位】
负责易失性存储芯片（DRAM、SRAM、DDR/LPDDR/GDDR、HBM 等）测试原理、测试方法与平台化方案研究，支撑公司自研老化测试设备、SLT 测试设备及代理 ATE 设备的产品定义与客户导入。
【核心职责】
1、测试技术与方法研究
1）深入理解易失性存储芯片的测试原理，包括功能测试、DC/AC 参数测试、时序测试、March 算法、刷新特性、数据保持、干扰测试、老化测试、SLT 系统级测试等。
2）跟踪 JEDEC 等标准及行业测试方法演进，形成内部测试规范与知识库。
2、平台化测试方案输出
1）面向客户需求，输出平台化测试方案，覆盖 CP、FT、BI、SLT 等环节。
2）定义测试硬件架构，包括 Loadboard、Socket、BIB、DIB、Probe Card、老化板卡、液冷/温控方案等。
3）协同软件团队定义测试程序、Pattern、数据采集、MES 上传与数据分析方案。
3、产品定义与研发协同
1）收集 Fabless、IDM、OSAT 等客户需求，进行竞品分析与市场调研。
2）参与自研老化测试设备、SLT 测试设备及代理 ATE 设备的产品定义、规格评审、路标规划。
3）输出 MRD/PRD 草案，帮助研发明确产品功能、性能指标与差异化卖点。
4、客户与项目支持
1）对接重点客户，进行技术交流、方案讲解、Demo 验证与问题闭环。
2）支持代理 ATE 设备的选型、配置、客户导入与售后技术协调。
3）分担计算存储测试BU总经理/副总经理的项目管理工作，制定项目计划、协调资源、控制风险与交付节点。
5、运营与管理
1）协助计算存储测试BU总经理/副总经理进行团队建设、流程优化、KPI 制定与预算管理。
2）培养初级测试工程师，建立测试方法、方案模板与培训体系。
3）参与部门运营分析，推动测试方案标准化、平台化与复用。
【任职要求】
1、本科及以上学历，微电子、电子工程、计算机、自动化、材料等相关专业。
2、5 年及以上存储芯片测试经验，其中易失性存储（DRAM/SRAM/DDR/LPDDR/HBM 等）经验优先。
3、精通芯片测试原理，熟悉 CP/FT/BI/SLT 流程，掌握测试程序开发、Pattern 编写、数据分析方法。
4、熟悉主流 ATE 平台（如 Advantest、Teradyne、爱德万、泰瑞达、华峰测控、长川科技等）及 BI/SLT 设备。
5、熟悉 Loadboard、Socket、BIB、DIB、Probe Card、老化板卡等测试硬件。
6、具备编程与脚本能力，如 C/C++、Python、Test Program、Pattern 等。
7、具备平台化思维，能够将客户需求转化为可复用的测试方案与产品规格。
8、具备良好的沟通、跨部门协调与项目管理能力。
9、有较强的责任心、自驱力和团队协作意识，能适应一定出差。
【加分项】
1、有产品经理、产品线管理或团队管理经验。
2、有 Fabless、IDM、OSAT 或 ATE 设备原厂/代理工作经验。
3、熟悉 AI 芯片、2.5D/3D 封装、HBM、Chiplet 等先进封装测试。
4、熟悉 MES、数据分析、良率提升、可靠性测试。
5、有从 0 到 1 定义测试设备或测试方案的经验。
【岗位定位】
负责非易失性存储芯片（NAND Flash、NOR Flash、EEPROM、3D NAND、UFS、eMMC、SSD、MRAM、ReRAM、PCRAM 等）测试原理、测试方法与平台化方案研究，支撑公司自研老化测试设备、SLT 测试设备及代理 ATE 设备的产品定义与客户导入。
【核心职责】
1、测试技术与方法研究
1）深入理解非易失性存储芯片的测试原理，包括擦写测试、编程/擦除时间、阈值电压分布、数据保持、读干扰、写干扰、耐久性、ECC、坏块管理、可靠性测试、老化测试、SLT 系统级测试等。
2）跟踪 JEDEC、ONFI、Toggle、UFS、NVMe 等标准及行业测试方法演进，形成内部测试规范与知识库。
2、平台化测试方案输出
1）面向客户需求，输出平台化测试方案，覆盖 CP、FT、BI、SLT 等环节。
2）定义测试硬件架构，包括 Loadboard、Socket、BIB、DIB、Probe Card、老化板卡、温控/液冷方案等。
3）协同软件团队定义测试程序、Pattern、数据采集、MES 上传与数据分析方案。
3、产品定义与研发协同
1）收集 Fabless、IDM、OSAT 等客户需求，进行竞品分析与市场调研。
2）参与自研老化测试设备、SLT 测试设备及代理 ATE 设备的产品定义、规格评审、路标规划。
3）输出 MRD/PRD 草案，帮助研发明确产品功能、性能指标与差异化卖点。
4、客户与项目支持
1）对接重点客户，进行技术交流、方案讲解、Demo 验证与问题闭环。
2）支持代理 ATE 设备的选型、配置、客户导入与售后技术协调。
3）分担计算存储测试BU总经理/副总经理的项目管理工作，制定项目计划、协调资源、控制风险与交付节点。
5、运营与管理
1）协助计算存储测试BU总经理/副总经理进行团队建设、流程优化、KPI 制定与预算管理。
2）培养初级测试工程师，建立测试方法、方案模板与培训体系。
3）参与部门运营分析，推动测试方案标准化、平台化与复用。
【任职要求】
1、本科及以上学历，微电子、电子工程、计算机、自动化、材料等相关专业。
2、5 年及以上存储芯片测试经验，其中非易失性存储（NAND/NOR/EEPROM/3D NAND/UFS/eMMC/SSD/新型存储等）经验优先。
3、精通芯片测试原理，熟悉 CP/FT/BI/SLT 流程，掌握测试程序开发、Pattern 编写、数据分析方法。
4、熟悉主流 ATE 平台（如 Advantest、Teradyne、爱德万、泰瑞达、华峰测控、长川科技等）及 BI/SLT 设备。
5、熟悉 Loadboard、Socket、BIB、DIB、Probe Card、老化板卡等测试硬件。
6、具备编程与脚本能力，如 C/C++、Python、Test Program、Pattern 等。
7、具备平台化思维，能够将客户需求转化为可复用的测试方案与产品规格。
8、具备良好的沟通、跨部门协调与项目管理能力。
9、有较强的责任心、自驱力和团队协作意识，能适应一定出差。
【加分项】
1、有产品经理、产品线管理或团队管理经验。
2、有 Fabless、IDM、OSAT 或 ATE 设备原厂/代理工作经验。
3、熟悉 3D NAND、UFS、eMMC、SSD、MRAM、ReRAM、PCRAM 等新型非易失存储测试。
4、熟悉 ECC、坏块管理、FTL、可靠性测试、寿命测试。
5、有从 0 到 1 定义测试设备或测试方案的经验。
